ARIMのシステム変更について～SimpRentシステムの導入
2024年4月より新たにSimpRentシステムを導入することとなりましたのでご案内いたします。
1. SimpRentとは
2. SimpRent導入に伴う申請書の変更
3. SimpRent導入に伴う装置予約について
4. 利用料金の改訂、他
5. 請求書について
詳細は、システム変更について をご覧ください
OS-125
走査型プローブ顕微鏡 (E-sweep) (日立ハイテクサイエンス AFM5000/AFM5300E)
scanning probe microscope
■ 特徴
AFM, c-AFM, STM, DFM, MFM, KFM, PRM, 電流マッピング, SNDN などの測定が可能な走査型プローブ顕微鏡。
温度制御、調湿制御機構を備えており、真空下での測定も可能。
500mT の磁場を試料水平方向に印加可能。
■ 仕様
試料サイズ：15mmφ
温度制御：-120～300℃
調湿制御：30～70%
真空中測定：10⁻⁴ Pa まで可能
磁場印加：試料水平方向に 500mT
設置場所：N-321
装置番号：N32
ARIM装置番号：OS-125
